2Self-accelerated thermal dissolution model for reset programming in unipolar resistive switching memory (RRAM) devices

Articolo
Data di Pubblicazione:
2009
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/36936
Pubblicato in:
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
Journal