Reliability impact of chalcogenide-structure relaxation in phase change memory (PCM) cells Part II: Physics-based modeling

Articolo

Data di Pubblicazione:

2009

Tipologia CRIS:

01.01 Articolo in rivista

Elenco autori:

Lacaita, ANDREA L

Link alla scheda completa:

https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/36932

Pubblicato in:

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

Journal