Optical, Structural and Interface Characterization of Single SiO2-SiC Core-Shell Nanowires Grown with a Low-Cost Method

Articolo
Data di Pubblicazione:
2010
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/236108
Pubblicato in:
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS (PRINT)
Journal