Electrical instability in self-aligned p-channel polysilicon TFTs related to oxide residual damage
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2007
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Rapisarda, Matteo; Mariucci, Luigi; Pecora, Alessandro; Fortunato, Guglielmo; Valletta, Antonio
Link alla scheda completa: