Scanning -DLTS and TEM-investigations in LEC GaAs: new arguments on the EL2-generation mechanism

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
1990
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Keywords:
GaAs; Scanning -DLTS; EL2; TEM
Elenco autori:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/116725
Titolo del libro:
Proceedings of the XIIth Int. Congress for Electron Microscopy