Structural characterization of epitaxial Y2O3 on Si (001) and of the Y2O3/Si interface

Articolo
Data di Pubblicazione:
2004
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/149309
Pubblicato in:
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING. B
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