Planar defects and misfit dislocations in (001) GaAs/Ge heterostructures MOCVD grown with different V/III ratio
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
1993
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Keywords:
GaAs/Ge; planar defects; TEM
Elenco autori:
Armigliato, Aldo; Attolini, Giovanni; Frigeri, Cesare; Pelosi, Claudio
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Titolo del libro:
Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology
Pubblicato in: