Skip to Main Content (Press Enter)
×
Home
Persone
Pubblicazioni
Strutture
Competenze
IT
EN
☰
UNI-FIND
|
UNI-FIND
cnr.it
IT
EN
×
Home
Persone
Pubblicazioni
Strutture
Competenze
☰
Pubblicazioni
MICROELECTRONICS RELIABILITY
Rivista
Codice:
E109979
ISSN:
0026-2714
Dati Generali
Dati Generali
Pubblicazioni (2)
Radiation effects in nitride read-only memories
Articolo
Reliability of ultra-thin oxides in CMOS circuits
Articolo
No Results Found