Does interferometer monitor thickness or optical-path variations?

Articolo
Data di Pubblicazione:
1998
Abstract:
abstract
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Keywords:
light interferometers; glass; thickness measurement; refractive index; thermal expansion
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/208017
Pubblicato in:
THE PHYSICS TEACHER
Journal