Variable Angle Spectroscopic Ellipsometry investigation of CVD-grown monolayer graphene

Nonostante le intense indagini nella regione UV-VIS, la ricerca sulle proprietà ottiche del grafene nella gamma estesa del vicino e medio infrarosso mediante Ellipsometria Spettroscopica (SE) rimane ancora limitata. Nel presente documento, le proprietà ottiche di un monostrato di grafene ottenuto per deposizione chimica da vapore (CVD), trasferito su SiO2 / Si da un substrato di rame , sono state studiate nell'ampio intervallo di energia (0,38-6,2 eV) utilizzando l'ellissometria spettroscopica ad angolo variabile (VASE). Le proprietà morfologiche e strutturali dei campioni sono state studiate mediante spettroscopia Micro-Raman, analisi a raggi X a dispersione di lunghezza d'onda (WDX), microscopia elettronica a scansione (SEM) e microscopia a forza atomica (AFM). Il modello ad oscillatori di Lorentz proposto per la risposta ottica del grafene si adatta molto bene ai dati sperimentali. Viene segnalato un doping non intenzionale, rivelato dalla spettroscopia Micro-Raman e da WDX.